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    • 非接觸法晶圓電阻率成像測定儀

      非接觸法晶圓電阻率成像測定儀主要通過四探針法測試單晶硅電阻率,具有自動定位的三坐標自動測量系統,可以自由設置測量點數量,自動測試完成,可以對測試出的數據進行2D成像,是智能化、集成化很高的晶圓電阻率測試儀器。

      更新時間:2023-11-20

      廠商性質:生產廠家

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    • 碳化硅晶圓電阻率測量儀

      碳化硅晶圓電阻率測量儀主要通過四探針法測試單晶硅電阻率,具有自動定位的三坐標自動測量系統,可以自由設置測量點數量,自動測試完成,可以對測試出的數據進行2D成像,是智能化、集成化很高的晶圓電阻率測試儀器。

      更新時間:2023-11-20

      廠商性質:生產廠家

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    • 碳化硅晶圓電阻率測試儀

      碳化硅晶圓電阻率測試儀主要通過四探針法測試單晶硅電阻率,具有自動定位的三坐標自動測量系統,可以自由設置測量點數量,自動測試完成,可以對測試出的數據進行2D成像,是智能化、集成化很高的晶圓電阻率測試儀器。

      更新時間:2023-11-20

      廠商性質:生產廠家

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    • 碳化硅晶圓電阻率測定儀

      碳化硅晶圓電阻率測定儀主要通過四探針法測試單晶硅電阻率,具有自動定位的三坐標自動測量系統,可以自由設置測量點數量,自動測試完成,可以對測試出的數據進行2D成像,是智能化、集成化很高的晶圓電阻率測試儀器。

      更新時間:2023-11-20

      廠商性質:生產廠家

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    • 非接觸半絕緣SiC電阻率測試儀

      非接觸半絕緣SiC電阻率測試儀主要通過四探針法測試單晶硅電阻率,具有自動定位的三坐標自動測量系統,可以自由設置測量點數量,自動測試完成,可以對測試出的數據進行2D成像,是智能化、集成化很高的晶圓電阻率測試儀器。

      更新時間:2023-11-20

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